TRI二手ICT报价及图片

来源：深圳市木士电子有限公司 时间：2025-03-25 04:27:23 [举报]

ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。

为向用户提供更多 ICT 能力，Keysight 还给Agilent3070配备了从标准边界扫描和连
接测试到互联测试的全部边界扫描能力。这些能力有助于满足制造商对可边界
扫描器件的需要，以及制造商能适应未来对 Intel 基周边控制中心和处理
器增加的需求。
长线 MDA 压着夹具不适合用于数字
测试，这一观点是对还是错?
虽然一般认为这是对的，但 Medalist
Agilent3070 iDEAL 证明这是错的。
Medalis Agilent070 iDEAL 用传统 MDA 型
长线压着夹具执行数字测试。边界扫
描测试，串行编程，基于库的测试
都能无毛刺地运行。使用 MDA 型夹
具，用户现在就有了简单、和低
运行成本的测试解决方案

电源
DUT 电源 0V 至 +20V
0V 至 -14V
高压 DUT 电源 10V 至 +100V
0V 至 -14V
电源通道数
可编程 0 – 5 V @ 20A
可编程 0 –14V @ 10A
可编程 0 – 20V @ 4A
可编程 0 – -14V @ 5A
可编程 10 –100V @ 10mA
常规
两路
无
一路
一路
无
高压
一路
一路
无
一路
一路
N6700 DUT 电源单元 4 x 可编程通道
0 至 50V @ 5A，每一通道
过压保护 有
过流保护 有
系统电源 AC 200V – 240V
10A
夹具
软件规范
操作系统 Windows XP Home Edition
支持语言 英语
简体汉语
繁体汉语
( 支持本地化 )
无矢量测试技术 VTEP v2.0 测试套件 ( 包括 VTEP, iVTEP 和 NPM)
覆盖扩展
Extest Toggle
探针位置图
引脚位置图
器件位置图
探针引脚定位器 带导向探针的引脚定位器
实施产出量显示 运行时的实 FPY ( 一次合格率 ) 显示
产出率增强工具 自动重测试
自动测试周期重复
调试界面 便于选择测试选项的电子表单格式
自动调试 自动调试模拟不加电测试和 VTEP v2.0
扩展能力 达 28 槽的单一模块设计
缺陷消息打印机 使用并行端口 (LPT1) 接口（不包括打印机）
发运和安装帮助 包括 (Keysight 授权代理商 )
电容器放电保护 有
支持的夹具类型 长线压床型

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