来源:深圳市木士电子有限公司 时间:2025-03-05 07:26:56 [举报]
安捷伦:agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达:Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针:ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c..
完善的自检功能,保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份,保障数据无丢失
可测IC(集成电路)插错、插反,管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能,提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术,可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用,可对元器件进行一致性检测
的测试覆盖率和分辨率,可测光电耦合器、电位器、接插件、晶振等器件
波形显示的配合调程,测量值更加合理
ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高,功能越来越强,封装越来越小,SMT元件的增多,多层板的使用,PCB板元件密度的增大,要在每一个节点放一根探针变得很困难,为增加测试点,使制造费用增高;同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难,开发周期延长。
的在线测试仪实测证明电解电容极性可测率高达100%真正功能价格比的在线测试仪功能、品质的测试技术● 的电解电容极性测试技术可测率高达100%。● 开短路及IC保护二极体之测试程式自动学习生成。● 电脑自动隔离点选择功能,可达10个点。● 多连板程式自动生成功能。● CMOS+RELAY结合的开关板设计,使测试既快又稳定● R.L.C相位分离技术● 杂散电容OFFSET功能● 系统自我诊断功能。● 完整的统计报表功能,资料可自动存储,不因断电而丢失数据。● 对小电阻使用特殊四线式测试模式,可排除探针与电路板之间不稳定接触电阻。● 应用IC Clamping Diode特性,检测IC脚位故障及焊接不良。● 体积小,重量轻,使用灵活,符合高科科技产品轻,薄,短,小的要求
这些特长为寻求更好测试覆盖而不增加测试成本的客户提供了机会。
i1000D包括标准的内建边界扫描测试能力和具有安捷伦新获奖的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加电无矢量测试套件。
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