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ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。
Keysight i3070 系列 6 系统提供了一个新的模拟激励和响应单元（ASRU）卡，其中包含新的数字测量电路（DMC），能够为系统提供额外的特性和提高系统模拟测试速度（可达到总模拟测试时间的20％）。
Keysight i3070 系列 6 系统可以满足这一需求。系列 6 ICT 系统采用成熟的技术精心设计，测试效率相比以前的产品大大提升。系列 6 包含久经考验的软件、硬件和编程功能，完全兼容以前的系统，并且可以执行高度可重复的测量。系列 6 ICT 还提供新的基础架构，能够允许制造商更轻松地并入外部电路以提高测试覆盖率，同时改善对外部电路的控制。深圳市木士电子有限公司二手ICT测试仪
销售，回收、租赁各品牌二手ICT在线测试仪TRI518SII、 TRI5001E、TRI8100LV、Keysighti3070、agilent i1000D、泰瑞达Teradyne TS
提供工厂ICT测试技术支持，的团队、质量、技术可靠、售后无忧。支持工厂闲置设备
为向用户提供更多 ICT 能力，Keysight 还给Agilent3070配备了从标准边界扫描和连
接测试到互联测试的全部边界扫描能力。这些能力有助于满足制造商对可边界
扫描器件的需要，以及制造商能适应未来对 Intel 基周边控制中心和处理
器增加的需求。
长线 MDA 压着夹具不适合用于数字
测试，这一观点是对还是错?
虽然一般认为这是对的，但 Medalist
Agilent3070 iDEAL 证明这是错的。
Medalis Agilent070 iDEAL 用传统 MDA 型
长线压着夹具执行数字测试。边界扫
描测试，串行编程，基于库的测试
都能无毛刺地运行。使用 MDA 型夹
具，用户现在就有了简单、和低
运行成本的测试解决方案
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